Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M.(m_miura@nuee.nagoya-u.ac.jp)
Yoshida Y., Matsumoto K., Ichino Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Miura M.(m-miura@ees.nagoya-u.ac.jp), Takai Y.(takai@nuee.nagoya-u.ac.jp)
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Matsumoto K., Ichino Y., Takai Y., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Itoh M.(m-ito@ees.nagoya-u.ac.jp), Yoshida Y.(yoshida@nuee.nagoya-u.ac.jp), Miura M.
Ключевые слова: HTS, REBCO, films, substrate single crystal, PLD process, critical current density, fabrication, critical caracteristics, LTG process
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.